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國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

日期：2024-10-22 06:48
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摘要：
 
國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

我國(guó)環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)　國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)及名稱
采用
程度
對(duì)應(yīng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)名稱
GB2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第1部分　總則
等同
IEC68-1-1988　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　總則　修正件1（1992）
GB2422-1995　環(huán)境試驗(yàn)　術(shù)語(yǔ)
等效
IEC68-5-2-1990　環(huán)境試驗(yàn)　第五部分起草試驗(yàn)方法導(dǎo)則術(shù)語(yǔ)和定義
GB2423.1-1999　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分　試驗(yàn)方法　試驗(yàn)A：低溫
等同
IEC68-2-1-1990替代1974年版　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)A：寒冷　修正件1（1993），修正件2（1994）
GB2423.2-2000　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分　試驗(yàn)方法　試驗(yàn)B：高溫
等同
IEC68-2-2-1974　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)B：干熱　修正件1（1993）　修正件2（1994）
GB2423.3-93　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-3-1985　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ca：恒定濕熱
GB2423.4-93　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-30-1985　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Db　及導(dǎo)則：交變?cè)囼?yàn)濕熱（12+12小時(shí)循環(huán)）　修正件1（1985）
GB/T2423.5-1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則：沖擊
等同
IEC68-2-27-1987　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ea及導(dǎo)則：沖擊
GB/T2423.6-1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞
等同
IEC68-2-29-1987　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Eb及導(dǎo)則：碰撞
GB/T2423.7-1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
等同
IEC68-2-31-1969　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ec：傾跌與翻倒　修正件1（1982）
GB/T2423.8-1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ed和導(dǎo)則：自由跌落
等同
IEC68-2-32-1975　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ed：自由跌落　修正件1（1982），修正件2（1990）
GB2423.9-2000　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱
等同
IEC68-2-56-1988　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Cb：恒定濕熱（主要用于設(shè)備）
GB/T2423.10-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）
等同
IEC68-2-6-1985　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fc及導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）
GB2423.11-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fd：寬帶隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)方法　一般要求
等同
IEC68-2-34-1973　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fd：寬帶隨機(jī)振動(dòng)　一般要求　修正件1（1983）
GB2423.12-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fda：寬帶隨機(jī)振動(dòng)——高再現(xiàn)性
等同
IEC68-2-35-1973　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fda：寬帶隨機(jī)振動(dòng)　高再現(xiàn)性　修正件1（1983）
GB2423.13-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fdb：寬帶隨機(jī)振動(dòng)——中再現(xiàn)性
等同
IEC68-2-36-1973　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fdb：寬帶隨機(jī)振動(dòng)　中再現(xiàn)性　修正件1（1983）
GB2423.14-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fdc：寬帶隨機(jī)振動(dòng)——低再現(xiàn)性
等同
IEC68-2-37-1973　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fdc：寬帶隨機(jī)振動(dòng)　低再現(xiàn)性　修正件1（1983）
GB2423.15-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ca和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
等同
IEC68-2-7-1983　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ca及導(dǎo)則　恒加速度
GB2423.16-1999　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)J和導(dǎo)則：長(zhǎng)霉
等同
IEC68-2-10-1988　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)J和導(dǎo)則：霉菌生長(zhǎng)
GB/T　2423.17-93　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法
等效
IEC　68-2-11-1981　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ka：鹽霧
GB2423.18-2000　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)　試驗(yàn)Kb：鹽霧、交變（氯化鈉溶液）
等同
IEC68-2-52-1996　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Kb：交變鹽霧（氯化鈉溶液）
GB2423.19-81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-42-1982　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Kc：接觸點(diǎn)和連接件的二氧化硫試驗(yàn)
GB2423.20-81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件硫化氫試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-43-1976　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Kd：接觸點(diǎn)和連接件的硫化氫試驗(yàn)
GB2423.21-91　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)M：低氣壓試驗(yàn)方法
非等效
IEC68-2-13-1983　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)M：低氣壓
GB2423.22-87　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-14-1984　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)N：溫度變化　修正件1（1986）
GB2423.23-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Q：密封試驗(yàn)方法
等同
IEC68-2-17-1994替代1987年版　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Q：密封
GB2423.24-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射
等同
IEC68-2-5-1975　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽(yáng)輻射
GB2423.25-92　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/AM：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-40-1976　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/AM：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)　修正件1（1983）
GB2423.26-92　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/BM：高溫、低氣壓綜合試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-41-1976　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/BM：高溫、低氣壓綜合試驗(yàn)　修正件1（1983）
GB2423.27-81　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)A/ZMD：低溫、低氣壓濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-39-1976　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/AMD：低溫、低氣壓和濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
GB2423.28-82　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)T：錫焊試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-20-1979　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)T：錫焊　修正件2（1987）
GB2423.29-1999　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)U：引出端及整體安裝件長(zhǎng)度
等同
IEC68-2-21-1983　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)U：引出線和整體安裝件強(qiáng)度　修正件3（1992）
GB2423.30-1999　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)XA和導(dǎo)則：在清洗中浸漬
等同
IEC68-2-45-1980　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)XA及導(dǎo)則：在清洗中浸漬　修正件1（1993）
GB2423.31-85　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　傾斜和搖擺試驗(yàn)方法
 
 
GB2423.32-85　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ta：濕潤(rùn)稱量可焊性試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-54-1985　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ta：錫焊、濕潤(rùn)稱量法可焊性試驗(yàn)
GB2423.33-89　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Kca：高濃度二氧化硫試驗(yàn)方法
 
 
GB2423.34-86　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-38-1974　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB2423.35-86　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/AFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
等效
IEC68-2-50-1983　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/AFc：低溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)（散熱和非散熱試驗(yàn)樣品通用）
GB2423.36-82　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)
等效
IEC68-2-51-1983　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/BFc：散熱和非散熱試驗(yàn)樣品的高溫/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)　
GB2423.37-89　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)L：砂塵試驗(yàn)方法
 
IEC68-2-68-1994　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)L：灰塵和沙?！∽ⅲ?7年報(bào)批等同采用
GB2423.38-90　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)R：水試驗(yàn)
等效
IEC68-2-18-1989　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)R和導(dǎo)則　水　修正件1（1993）
GB2423.39-90　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　試驗(yàn)Ee：彈跳試驗(yàn)方法
等效
IEC68-2-55-1987　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ee及導(dǎo)則：彈跳　
GB/T2423.40-1997　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
等同
IEC68-2-66-1994　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱（不飽和高壓蒸氣）
GB/T2423.41-1994　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程　風(fēng)壓試驗(yàn)方法
 
 
GB/T2423.42-1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)低溫/低氣壓/振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)方法
 
 
GB/T2423.43-1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　元件設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動(dòng)（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）中的動(dòng)力試驗(yàn)時(shí)的安裝導(dǎo)則
等同
IEC68-2-47-1982　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊（Ea）、振動(dòng)（Fc和Fd）和恒加速度（Ga）等動(dòng)力試驗(yàn)時(shí)的安裝導(dǎo)則
GB/T2423.44-1995　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Eg：撞擊　彈簧錘
等同
IEC68-2-63-1991　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Eg：彈簧錘撞擊
GB/T2423.45-1997　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
等同
IEC68-2-61-1991　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Z/ABDM：氣候順序
GB/T2423.46-1997　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ef：撞擊——擺錘
等同
IEC68-2-62-1991　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ef：擺錘撞擊　修正件1（1993）
GB/T2423.47-1997　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fg：聲振
等同
IEC68-2-65-1994　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fg：振動(dòng)　誘發(fā)噪聲
GB/T2423.48-1997　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ff：振動(dòng)　時(shí)間歷程法
等同
IEC68-2-57-1989　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ff：振動(dòng)　時(shí)間歷程法
GB/T2423.49-1997　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Fe：振動(dòng)　正弦拍頻法
等同
IEC68-2-59-1990　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fe：振動(dòng)　正弦拍振法　
GB/T2423.50-1999　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Cy：恒定濕熱　主要用于元件的加速試驗(yàn)
等同
IEC68-2-67-1995　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Cy：恒定濕熱　主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T2423.XX-19XX　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Fh：振動(dòng)　寬帶隨機(jī)（數(shù)控）及導(dǎo)則
等同
IEC68-2-64-1993替代1989年版　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Fh：振動(dòng)　寬帶隨機(jī)（數(shù)控）及導(dǎo)則
GB/T2423.51-2000　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　第2部分：試驗(yàn)方法　試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)
等同
IEC68-2-6-1995　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Ke：流動(dòng)混合立體腐蝕試驗(yàn)
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Td：表面安裝器件耐熔化金屬鍍層和表面焊接熱　可焊性試驗(yàn)
 
IEC68-2-58-1989　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　表面安裝器件（SMD）耐焊熱和金屬敷鍍層耐融熔的可焊性
 
不采用
IEC653-1979　超聲波清洗總則
GB/T2423.XX　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　試驗(yàn)Cy：濕熱恒定
等同
IEC68-2-67-1995　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　試驗(yàn)Cy：濕熱恒定
GB2423.1-2000　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
等同
IEC68-3-1-1974　環(huán)境試驗(yàn)　第三部分　背景材料　第1篇　寒冷和干熱　**次補(bǔ)充　68-3-1A（1978）
GB/T2424.2　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
等效
IEC68-2-28-1990　環(huán)境試驗(yàn)　**部分　試驗(yàn)　濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則
GB2424.5-81　電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)　傾跌與翻倒試驗(yàn)導(dǎo)則